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電子散斑干涉實(shí)驗(yàn)裝置資料
本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測(cè)定其離面位移的%，，的測(cè)試，。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。
該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、%暗房操作，實(shí)時(shí)顯示，場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)，故而應(yīng)用%，如物體形變測(cè)量、*損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。
儀器特點(diǎn)：
自己調(diào)節(jié)光路，可提高動(dòng)手能力；
采用了，處理光學(xué)信息的CCD測(cè)量，
計(jì)算機(jī)處理圖象，軟件操作簡(jiǎn)便
可利用軟件畫出測(cè)試表面受力變形后的三維立體圖。
儀器成套性：
CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)整架、光學(xué)零件、被測(cè)樣品。